Descrizione:
I spettrometri a fibra ottica LAM Research sono dispositivi di monitoraggio ottico ad alta precisione integrati per apparecchiature di lavorazione dei wafer semiconduttori. Principalmente abbinati a moduli ottici professionali, adottano un design di trasmissione a fibra ottica per catturare lo spettro di emissione del plasma, riflessione e trasmissione all'interno delle camere di processo. Ampiamente utilizzati per il rilevamento del punto finale dell'etch, la metrologia dei film sottili e il monitoraggio in tempo reale delle condizioni del plasma, queste unità garantiscono prestazioni di processo stabili, migliorano la resa produttiva e riducono i prodotti difettosi nei processi di incisione, CVD, PVD e altre procedure di produzione sotto vuoto. Come componenti OEM originali compatibili, presentano eccellente compatibilità e affidabilità a lungo termine per gli strumenti di processo LAM a tutta serie.
Specifiche principali:
- Dotati di rivelatori CCD/PMT ad alta sensibilità, che offrono un'eccezionale risoluzione spettrale e basso rumore. Coprono la gamma di lunghezze d'onda UV-visibile per soddisfare le diverse esigenze di monitoraggio dei processi semiconduttori.
- Interfacce in fibra SMA standard supportano la trasmissione del segnale a lunga distanza. Sonde compatibili con il vuoto funzionano stabilmente in ambienti ad alto vuoto, alta temperatura e plasma.
- L'analisi spettrale in tempo reale consente un giudizio preciso del punto finale dell'etch, la misurazione dello spessore dei film sottili e delle proprietà ottiche, evitando efficacemente sovra-etch e sotto-etch.
- Porte di comunicazione Ethernet e RS-232 integrate, completamente compatibili con i protocolli delle apparecchiature LAM per una perfetta interazione dei dati e collegamento di sistema.
- Struttura compatta e robusta con capacità anti-vibrazione e anti-interferenza. Supporta operatività continua 24/7 e facile sostituzione in loco.
Applicazioni tipiche:
- Sistemi di incisione al plasma, apparecchiature di deposizione di film sottili CVD, PVD e ALD
- Rilevamento del punto finale per processi di incisione dei wafer
- Misurazione in situ dello spessore dei film sottili e della riflettanza
- Analisi in tempo reale dello stato del plasma per camere di processo sotto vuoto
- LAM Research 2300, 9400, ExAL e altre piattaforme di processo principali
FAQ:
D1:Qual è la situazione del prodotto e la garanzia?
R:Articoli originali nuovi. Garanzia inclusa di 1 anno.
D2:Quali sono le condizioni di pagamento?
R:T/T, Paypal supportati.
D3: Qual è il tempo di consegna del prodotto? C'è sufficiente inventario?
R:Modelli standard disponibili in magazzino, spediti in 3–5 giorni lavorativi dopo il pagamento. I modelli rari richiedono ordinazione dal produttore—contattare il servizio clienti per le tempistiche.
D4:Spedizione e tracciamento
R:DHL/FedEx/UPS disponibili. Numero di tracciamento + link forniti dopo la spedizione. Monitoraggio dell'intero processo da parte del nostro team.
D5:Imballaggio e sicurezza
R:Imballaggio originale del marchio con protezione rinforzata (schiuma, cartoni sigillati, casse di legno per apparecchiature di precisione). Resistente a umidità e urti.